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分光装置の子機の親機に対する機差を複数試料のスペクトルの平均スペクトルから求め、その機差を子機のスペクトルから差し引くことにより、親機で開発した検量線をそのまま子機で利用できるようにする「分光装置応答特性の平準化法」を開発した。
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